제품 설명
NFP-KIT는 EMI/EMC 문제를 확인하기 위한 툴로서 신뢰성 있고 정확한 라이브 스캐닝 방법을 통해 제품의 테스트 품질을 향상 시키는데 도움이 됩니다. 이 프로브는 전자파의 방사를 일으키는 잠재적인 원인을 찾아내고 식별하며 측정 및 특성화 작업에 사용됩니다.
YIC 테크놀러지에서 설계한 NFP-KIT는 EMI/EMC 문제의 해결 및 사전 적합성 테스트를 위한 근거리 방사 에너지의 측정을 위해 설계 되었습니다. PCB 보드, 어셈블리, 케이블, 인클로저 또는 제품의 트레이스 및 구성요소 등에서 방사되는 간섭 현상도 찾을 수 있습니다. 프로브의 출력량은 프로브가 위치하는 지점의 자기장(H) 강도에 비례합니다.
NFP-KIT는 hand-held 방식의 싱글 프로브 방식의 제품이며 키트에 포함된 카메라와 연동하여 측정된 결과를 EMViewer라는 프로그램을 통해 출력합니다.
NFP-KIT 당사의 다른 제품들과 비교 시에도 더 높은 가성비를 제공하며 Education Bundle 제품은 교육 커리큘럼에 사용할 수 있는 데모용 보드와 교수용 자료들을 제공하기 때문에 대학교와 같은 교육기관에서 사용하기 좋습니다.
구성
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동영상
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